prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
profesor – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/02028
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 4360 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 210
1994
-
Diffuse x-ray scattering from non-ideal periodical crystalline multilayers
Appl. Phys. A, rok: 1994, ročník: 58(1994), vydání: -
-
Diffuse x-ray scattering from p+ porous silicon by triple axis diffractometry
Appl. Phys. Lett., rok: 1994, ročník: 65, vydání: 12
-
Effect of interfacial-roughness replication on the diffuse x-ray reflection from periodical multilayers
Appl. Phys. A, rok: 1994, ročník: 60, vydání: -
-
High resolution x-ray triple axis diffractometry of short period Si m Ge n superlattices
Jpn. J. Appl. Phys., rok: 1994, ročník: 33, vydání: 4B
-
Nonspecular x-ray reflection from rough multilayers
Physical Review B, rok: 1994, ročník: 49, vydání: 15
-
Quantitative analysis of strain relaxation and mosaicity in short period Si m Ge n superlattices using reciprocal space mapping by x-ray diffraction
Solid-State Electronics, rok: 1994, ročník: 37, vydání: 4-6
-
Spektrální elipsometrická charakterizace tenkých epitaxních vrstev Si_(1-x)Ge_x
1st Int. Conf. on Materials for Microelectronics, rok: 1994, počet stran: 5 s.
-
Structural properties of perfect ZnTe epilayers on (001) GaAs substrates
Journal of Crystal Growth, rok: 1994, ročník: 138, vydání: -
-
The influence of specular interface reflection on grazing incidence x-ray diffraction and diffuse scattering from superlattices
Physica B, rok: 1994, ročník: 198, vydání: -
-
The influence of thermal processing on structural and electrical properties of Wx Si 1-x/Si multilayers
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A, rok: 1994, ročník: 350, vydání: -