prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

1997

• Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by X-ray diffraction techniques

  DARHUBER A.A. STANGL J. HOLÝ Václav BAUER G. KROST A. GRUNDMANN M. BIMBERG D. USTINOV V.M. KOP'EV P.S. KOSOGOV A.O. WERNER P.

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 303

• X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiG /Si superlattices

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  II Nuovo Cimento, rok: 1997, ročník: 1997, vydání: 19 D

1996

• Elastic strains in GaAs/AlAs quantum dots studied by high resolution. X-ray diffraction

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Solid - State Electronics, rok: 1996, ročník: 40(1996), vydání: 1-8

• High Resolution X-Ray Reciprocal Space Mapping

  BAUER G. HOLÝ Václav LI J.

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Polonica A, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 89

• Interface evolution after thermal treatment of Tungsten/ Silicon multilayers

  JERGEL Matej HOLÝ Václav BOCHNÍČEK Zdeněk MAJKOVÁ Eva LUBY Štefan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Crystallographica A, Suppl., rok: 1996, ročník: 52, vydání: -

• Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers

  JERGEL M. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Mag. Materials, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 156

• Local Surface Deformations Induced by Interfacial Misfit Dislocations in Lattice-mismatched heteroepitaxy of EuTe on PbTe(111)

  SPRINGHOLZ G. BAUER G. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Surface Science, rok: 1996, ročník: 365(1996), vydání: -

• Many crystal x-ray diffractometry on superlattices

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Heterostructure Epitaxy and Devices. NATO ASI Series 3. Kluwer Acad. Publl. Dordrecht (D4), rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 11

• Quantitative analysis of elastic strains in GaAs/AlAs quantum dots

  DARHUBER A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Physica B, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 227

• Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy

  CHLÁDEK M. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1996, ročník: 69(19960, vydání: 9