Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2005

• Měření mechanického napětí v tenkých vrstvách pomocí kombinované optické metody

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel ČUDEK Vlastimil BURŠÍKOVÁ Vilma ŠILER Martin

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2005, ročník: 50, vydání: 3

• Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  Kvalita a GPS 2005, rok: 2005

• Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films

  ŠILER Martin OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Modern Optics, rok: 2005, ročník: 52, vydání: 4

• Optical characterization of sol-gel deposited PZT thin films by spectroscopic ellipsometry and reflectometry in near-UV and visible regions

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan MISTÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo HU Gu Jin DAI Ning

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Optical Characterization of TiO2 Thin Films by the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Photometry

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan PETRÝDES David

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2005, ročník: 80, vydání: 1-3

• Optical measurement of mechanical stresses in diamond-like carbon films

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel ČUDEK Vladimír BURŠÍKOVÁ Vilma KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  8-th International Symposium on Laser Metrology, rok: 2005

• Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

  FRANTA Daniel NEGULESCU Beatrice THOMAS Luc DAHOO Pierre Richard GUYOT Marcel OHLÍDAL Ivan MISTRÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

  MISTRÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan HU Gu Jin DAI Ning

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Spectroscopic ellipsometry of sinusoidal surface-relief gratings

  ANTOŠ Roman OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr MISTÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo VIŠŇOVSKÝ Štefan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Thermal stability of the optical properties of plasma deposited diamond-like carbon thin films

  FRANTA Daniel BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan ZAJÍČKOVÁ Lenka SŤAHEL Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2005, ročník: 14, vydání: 11-12