Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2003

• Optical constants of ZnTe and ZnSe epitaxial thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2

• Optical characterization of ZnSe thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek ve sborníku

  19th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Quality of Life, rok: 2003

• Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan BURŠÍKOVÁ Vilma ZAJÍČKOVÁ Lenka

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2003, ročník: 12, vydání: 9

2002

• Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel POKORNÝ Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1

• Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2002, ročník: 47, vydání: 6-7

• Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr POKORNÝ Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1

• Influence of overlayers on determination of the optical constants of ZnSe thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2002, ročník: 92, vydání: 4

• Optical characterization of diamond like carbon films using multi-sample modification of variable angle spectroscopic ellipsometry

  FRANTA Daniel ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan JANČA Jan VELTRUSKÁ Kateřina

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2002, ročník: 11, vydání: 1

• Optical characterization of thin films non-uniform in thickness by a multiple-wavelength reflectance method

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KRÁLÍK Tomáš JÁKL Miloš ELIÁŠ Marek

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2002, ročník: 34, vydání: 1

2001

• Analysis of inhomogeneous thin films of ZrO2 by the combined optical method and atomic force microscopy

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr POKORNÝ Pavel OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2001, ročník: 32, vydání: 1