Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2001

• XPS and Ellipsometric Study of DLC/Silicon Interface

  ZAJÍČKOVÁ Lenka VELTRUSKÁ Kateřina TSUD Nataliya FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2001, ročník: 61, vydání: 2-4

2000

• Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Mikrochim. Acta, rok: 2000, ročník: 132, vydání: 1

• Analysis of thin films by optical multi-sample methods

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4

• Atomic force microscopy measurements of surface roughness quantities important in optics of surfaces and thin films

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 2000

• Ellipsometry of Thin Film Systems

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Kapitola v knize

  Progress in Optics, Vol. 41 (Ed. E. Wolf), vydání: Vyd. 1, rok: 2000, počet stran: 102 s.

• Matrix formalism for imperfect thin films

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Acta physica slovaca, rok: 2000, ročník: 50, vydání: 4

• Optical characterization of inhomogeneous thin films of ZrO2 by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2000, ročník: 30, vydání: 1

• Optical characterization of thin films with randomly rough boundaries using the photovoltage method

  PAVELKA Radek OHLÍDAL Ivan HLÁVKA Jan FRANTA Daniel SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2000, ročník: 366, vydání: 1

1999

• Comparison of optical and non-optical methods for measuring surface roughness

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel TYKAL Miroslav

  Článek ve sborníku

  Proceedings of SPIE 3820, 11th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 1999

• Complete Optical Characterization of the SiO2/Si System by Spectroscopic Ellipsometry Spectroscopic Reflectometry and Atomic Force Microscopy

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel PINČÍK Emil OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 1999, ročník: 28, vydání: 1