Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2001

• Calculation of the optical quantities characterizing inhomogeneous thin film using a new mathematical procedure based on the matrix formalism and Drude approximation

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek ve sborníku

  12th Czech-Slovak-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 2001

• Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel FRUMAR Miroslav JEDELSKÝ Jaroslav NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2001, ročník: 3, vydání: 4

• Determination of Thicknesses and Spectral Dependences of Refractive Indices of Non-Absorbing and Weakly Absorbing Thin Films Using the Wavelengths Related to Extrema in Spectral Reflectances

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2001, ročník: 61, vydání: 1

• Měření základních statistických veličin náhodné povrchové drsnosti pomocí mikroskopie atomové síly

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2001, ročník: 51, vydání: 1

• Optical Characterization of Diamond-like Carbon Films

  FRANTA Daniel ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan JANČA Jan

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2001, ročník: 61, vydání: 2-4

• Optical characterization of DLC:Si films prepared by PECVD

  FRANTA Daniel BURŠÍKOVÁ Vilma ZAJÍČKOVÁ Lenka

  Článek ve sborníku

  Proceedings of 13th Symposium on Application of Plasma Processes, rok: 2001

• Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2001, ročník: 175-176, vydání: 1

• Optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films with the wavelengths related to extrema in spectral reflectances

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Applied Optics, rok: 2001, ročník: 40, vydání: 31

• Study of Thin Film Defects by Atomic Force Microscopy

  KLAPETEK Petr FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek ve sborníku

  Proceedings of the 4th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods, rok: 2001

• Vliv diskrétní Fourierovy transformace na zpracování AFM dat

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2001, ročník: 51, vydání: 1