Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2019

• Efficient method to calculate the optical quantities of multi-layer systems with randomly rough boundaries using the Rayleigh Rice theory

  VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Physica Scripta, rok: 2019, ročník: 94, vydání: 4, DOI

• Evaluation of the Dawson function and its antiderivative needed for the Gaussian broadening of piecewise polynomial functions

  VOHÁNKA Jiří NEČAS David FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Vacuum Science & Technology B, rok: 2019, ročník: 37, vydání: 6, DOI

• Optical characterization of inhomogeneous thin films containing transition layers using the combined method of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry based on multiple-beam interference model

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří BURŠÍKOVÁ Vilma ŽENÍŠEK Jaroslav VAŠINA Petr ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Vacuum Science and Technology B:Nanotechnology and Microelectronics, rok: 2019, ročník: 37, vydání: 6, DOI

• Optical Characterization of Non-Stoichiometric Silicon Nitride Films Exhibiting Combined Defects

  VOHÁNKA Jiří OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav ŠUSTEK Štěpán ČERMÁK Martin ŠULC Václav VAŠINA Petr ŽENÍŠEK Jaroslav FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Coatings, rok: 2019, ročník: 9, vydání: 7, DOI

• Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model

  FRANTA Daniel VOHÁNKA Jiří BRÁNECKÝ Martin FRANTA Pavel ČERMÁK Martin OHLÍDAL Ivan ČECH Vladimír

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Vacuum Science & Technology B, rok: 2019, ročník: 37, vydání: 6, DOI

• Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics

  FRANTA Daniel VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Pavel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Electrical Engineering, rok: 2019, ročník: 70, vydání: 7, DOI

2018

• Amorphous gallium oxide grown by low-temperature PECVD

  KOBAYASHI Eiji BOCCARD Mathieu JEANGROS Quentin RODKEY Nathan VRESILOVIC Daniel HESSLER-WYSER Aicha DÖBELI Max FRANTA Daniel DE WOLF Stefaan MORALES-MASIS Monica BALLIF Christophe

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Vacuum Science and Technology A, rok: 2018, ročník: 36, vydání: 2, DOI

• Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region

  FRANTA Daniel FRANTA Pavel VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2018, ročník: 123, vydání: 18, DOI

• Different theoretical approaches at optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered with native oxide layers

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří MISTRÍK Jan ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2018, ročník: 50, vydání: 11, DOI

• Ellipsometry of Layered Systems

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Kapitola v knize

  Optical Characterization of Thin Solid Films, rok: 2018, počet stran: 35 s.