Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

2021

• Wide spectral range optical characterization of yttrium aluminum garnet (YAG) single crystal by the universal dispersion model

  FRANTA Daniel MURESAN Mihai-George

  Článek v odborném periodiku

  Optical Materials Express, rok: 2021, ročník: 11, vydání: 12, DOI

2020

• Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2020

• Determining shape of thickness non-uniformity using variable-angle spectroscopic ellipsometry

  VOHÁNKA Jiří ŠUSTEK Štěpán BURŠÍKOVÁ Vilma ŠKLÍBOVÁ Veronika ŠULC Václav HOMOLA Vojtěch FRANTA Daniel ČERMÁK Martin OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2020, ročník: 534, vydání: December 2020, DOI

• Ellipsometric characterization of highly non-uniform thin films with the shape of thickness non-uniformity modeled by polynomials

  VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel ČERMÁK Martin HOMOLA Vojtěch BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 4, DOI

• Optical quantities of a multilayer system with randomly rough boundaries and uniaxial anisotropic media calculated using the Rayleigh-Rice theory and Yeh matrix formalism

  ČERMÁK Martin VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Physica Scripta, rok: 2020, ročník: 95, vydání: 9, DOI

• Spectroscopic ellipsometry of inhomogeneous thin films exhibiting thickness non-uniformity and transition layers

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří BURŠÍKOVÁ Vilma FRANTA Daniel ČERMÁK Martin

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 1, DOI

• Symmetry of linear dielectric response tensors: Dispersion models fulfilling three fundamental conditions

  FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of applied physics, rok: 2020, ročník: 127, vydání: 22, DOI

2019

• Approximate methods for the optical characterization of inhomogeneous thin films: Applications to silicon nitride films

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel ČERMÁK Martin ŽENÍŠEK Jaroslav VAŠINA Petr

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Electrical Engineering, rok: 2019, ročník: 70, vydání: 7, DOI

• Approximations of reflection and transmission coefficients of inhomogeneous thin films based on multiple-beam interference model

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří MISTRÍK Jan ČERMÁK Martin VIŽĎA František FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 2019, ročník: 692, vydání: 31 December 2019, DOI

• Combination of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry with including light scattering in the optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered by native oxide layers

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Surface Topography: Metrology and Properties, rok: 2019, ročník: 7, vydání: 4, DOI