prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 202
1999
-
Optical methods for surface characterization
11th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, rok: 1999
-
Optical quantities of multilayer systems with correlated randomly rough boundaries
Journal of modern optics, rok: 1999, ročník: 46, vydání: 14
-
Relationship Between AFM and Optical Measurements at Analyzing Surface Roughness
Jemná mechanika a optika, rok: 1999, ročník: 44, vydání: 10
-
Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie
Jemná mechanika a optika, rok: 1999, ročník: 1999, vydání: 2
1998
-
Analysis of thin films with slightly rough boundaries
Mikrochim. Acta, rok: 1998, ročník: Suppl. 15, vydání: 1
-
Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness
Proceedings of the 3th Seminar on Quantitative Microscopy, rok: 1998
-
Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries
Journal of modern optics, rok: 1998, ročník: 45, vydání: 5
-
Ellipsometry of thin films
Acta Physica Slovaca, rok: 1998, ročník: 48, vydání: 4
-
Optical parameter analysis of thin absorbing films measured by the photovoltage method
Acta physica polonica A, rok: 1998, ročník: 94, vydání: 3
-
Rubidium Bromide (RbBr)
Handbook of Optical Constants of Solids III, rok: 1998, počet stran: 11 s.