prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

1998

• Rubidium lodide (RbI)

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Kapitola v knize

  Handbook of Optical Constants of Solids III, rok: 1998, počet stran: 14 s.

• Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel TYKAL Miroslav PRAŽÁK Dominik MICHÁLEK Aleš

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 1998, ročník: 43, vydání: 4

• Statistical properties of the near-field speckle patterns of thin films with slightly rough boundaries

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Communications, rok: 1998, ročník: 147, vydání: 1

1997

• Analysis of single layers placed on slightly rough surfaces by spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and atomic force microscopy

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel REZEK Bohuslav OHLÍDAL Miloslav

  Článek ve sborníku

  ECASIA 97 - 7th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1997

• Optical analysis of weakly absorbing inhomogeneous thin films by means of the envelope method of spectroscopic reflectometry

  OHLÍDAL Ivan NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 1997, ročník: 42, vydání: 3

1996

• Method of shearing interferometry for characterizing non-gaussian randomly rough surfaces

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel MICHÁLEK Aleš

  Článek ve sborníku

  Specification, Production, and Testing of Optical Components and Systems, rok: 1996

• New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films

  HLÁVKA Jan OHLÍDAL Ivan VIŽĎA František

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1996, ročník: 279

• Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition of Thin Films from Tetraethoxysilane and Methanol: Optical Properties and XPS Analyses

  ZAJÍČKOVÁ Lenka OHLÍDAL Ivan JANČA Jan

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 280

• Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces Covered by Layers

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel HORA Jaroslav

  Článek ve sborníku

  ECASIA 95 - 6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, rok: 1996

• Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan HORA Jaroslav NAVRÁTIL Karel

  Článek ve sborníku

  12. konference českých a slovenských fyziků, rok: 1996