prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 202
1995
-
A method of shearing interferometry for determining the statistical quantities of randomly rough surfaces of solids
Pure Appl. Opt., rok: 1995, ročník: 4, vydání: 5
-
Interferometry of Randomly Rough Surfaces
Photonics '95, rok: 1995
-
Optical analysis by means of spectroscopic reflectometry of single and double layers with correlated randomly rough boundaries
Optical Engineering, rok: 1995, ročník: 34, vydání: 6
-
Scattering of Light from Multilayer Systems with Rough Boundaries
Progress in Optics, Vol. 34 (Ed. E. Wolf), rok: 1995, počet stran: 83 s.
1994
-
Characterization of the basic statistical properties of very rough surfaces of transparent solids by immersion shearing interferometry
Applied Optics, rok: 1994, ročník: 33(1994), vydání: 34
-
Optical characterization of single and double layers with correlated randomly rough boundaries
Optical Interference Coatings, rok: 1994
1993
-
Approximate formulas for the reflectance, transmittance and scattering losses of nonabsorbing multilayers systems with randomly rough boundaries
J. Opt. Soc. Am. A, rok: 1993, ročník: 10(1993), vydání: 1
-
Influence of defects of thin films on determining their thickness by the method based on white light interference
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1993, ročník: 25(1992), vydání: 1
-
The diffuse x-ray scattering in real periodical superlatices
Superlattices and Microstructures, rok: 1993, ročník: 12, vydání: 1
-
X-ray reflection from rough layered systems
Phys. Rev. B, rok: 1993, ročník: 47, vydání: 23