prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
2005
-
Characterization of optical thin films exhibiting defects
Advances in Optical Thin Films II, rok: 2005
-
Influence of technological conditions on mechanical stresses inside diamond-like carbon films
Diamond and Related Materials, rok: 2005, ročník: 14, vydání: 11-12
-
Měření mechanického napětí v tenkých vrstvách pomocí kombinované optické metody
Jemná mechanika a optika, rok: 2005, ročník: 50, vydání: 3
-
Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly
Kvalita a GPS 2005, rok: 2005
-
Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films
Journal of Modern Optics, rok: 2005, ročník: 52, vydání: 4
-
Optical characterization of non-uniform thin films using imaging spectrophotometry
Advances in Optical Thin Films II, rok: 2005
-
Optical characterization of sol-gel deposited PZT thin films by spectroscopic ellipsometry and reflectometry in near-UV and visible regions
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Optical Characterization of TiO2 Thin Films by the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Photometry
Vacuum, rok: 2005, ročník: 80, vydání: 1-3
-
Optical measurement of mechanical stresses in diamond-like carbon films
8-th International Symposium on Laser Metrology, rok: 2005
-
Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4