prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2005

• Optical Characterization of TiO2 Thin Films by the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Photometry

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan PETRÝDES David

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2005, ročník: 80, vydání: 1-3

• Optical measurement of mechanical stresses in diamond-like carbon films

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav FRANTA Daniel ČUDEK Vladimír BURŠÍKOVÁ Vilma KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  8-th International Symposium on Laser Metrology, rok: 2005

• Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

  FRANTA Daniel NEGULESCU Beatrice THOMAS Luc DAHOO Pierre Richard GUYOT Marcel OHLÍDAL Ivan MISTRÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

  MISTRÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan HU Gu Jin DAI Ning

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Scanning thermal microscopy - theory and applications

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2005, ročník: 50, vydání: 11-12

• Spectroscopic ellipsometry of sinusoidal surface-relief gratings

  ANTOŠ Roman OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr MISTÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo VIŠŇOVSKÝ Štefan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings

  ANTOŠ Roman OHLÍDAL Ivan MISTRÍK Jan MURAKAMI K. YAMAGUCHI Tomuo PIŠTORA J. HORIE M. VIŠŇOVSKÝ Štefan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4

• Specular spectroscopic ellipsometry for the critical dimension monitoring of gratings fabricated on a thick transparent plate

  ANTOŠ Roman PIŠTORA Jaromír OHLÍDAL Ivan POSTAVA Kamil MISTRÍK Jan YAMAGUCHI Tomuo VIŠŇOVSKÝ Štefan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2005, ročník: 97, vydání: 5

• Thermal stability of the optical properties of plasma deposited diamond-like carbon thin films

  FRANTA Daniel BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan ZAJÍČKOVÁ Lenka SŤAHEL Pavel

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2005, ročník: 14, vydání: 11-12

2004

• Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Microchimica Acta, rok: 2004, ročník: 147, vydání: 3