prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 199
2005
-
Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Scanning thermal microscopy - theory and applications
Jemná mechanika a optika, rok: 2005, ročník: 50, vydání: 11-12
-
Spectroscopic ellipsometry of sinusoidal surface-relief gratings
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings
Applied Surface Science, rok: 2005, ročník: 244, vydání: 1-4
-
Specular spectroscopic ellipsometry for the critical dimension monitoring of gratings fabricated on a thick transparent plate
Journal of Applied Physics, rok: 2005, ročník: 97, vydání: 5
-
Thermal stability of the optical properties of plasma deposited diamond-like carbon thin films
Diamond and Related Materials, rok: 2005, ročník: 14, vydání: 11-12
2004
-
Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation
Microchimica Acta, rok: 2004, ročník: 147, vydání: 3
-
Complete Characterization of Rough Polymorphous Silicon Films by Atomic Force Microscopy and the Combined Method of Spectroscopic Ellipsometry and Spectroscopic Reflectometry
Thin Solid Films, rok: 2004, ročník: 455-456, vydání: 1
-
Characterization of thin oxide films on GaAs substrates by optical methods and atomic force microscopy
Surface and Interface Analysis, rok: 2004, ročník: 36, vydání: 8
-
Influence of Composition, Exposure and Thermal Annealing on Optical Properties of As-S Chalcogenide Thin Films
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2004, ročník: 6, vydání: 1