prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 202
2009
-
Combined method of spectroscopic ellipsometry and photometry as an efficient tool for the optical characterisation of chalcogenide thin films
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 12
-
Characterization of non-uniform diamond-like carbon films by spectroscopic ellipsometry
Diamond and Related Materials, rok: 2009, ročník: 18, vydání: 2-3, DOI
-
Influence of Cross-Correlation of Rough Boundaries on Reflectance of Thin Films on GaAs and Si Substrates
PHYSICS OF SEMICONDUCTORS, rok: 2009
-
Precise measurement of thickness distribution of non-uniform thin films by imaging spectroscopic reflectometry
Proceedings of IMEKO XIX World Congress, rok: 2009
-
Reflectance of non-uniform thin films
Journal of Optics A: Pure and Applied Optics, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 4
2008
-
Characterization of nanostructured diamond-like carbon coatings deposited in single and dual frequency capacitive discharges
Rok: 2008, druh: Konferenční abstrakty
-
Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films
Optics Express, rok: 2008, ročník: 16, vydání: 11
-
Influence of shadowing on ellipsometric quantities of randomly rough surfaces and thin films
Journal of modern optics, rok: 2008, ročník: 55, vydání: 7
-
Nanoindentation studies on amorphous carbon films prepared using plasma enchanced chemical vapor deposition
Rok: 2008, druh: Konferenční abstrakty
-
Optical characterization of diamond-like carbon thin films non-uniform in thickness using spectroscopic reflectometry
Diamond and Related Materials, rok: 2008, ročník: 17, vydání: 1