prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
vedoucí pracoviště – Optika tenkých vrstev a povrchů pevných látek
kancelář: pav. 06/01031
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6244 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 202
2008
-
Optical characterization of non-stoichiometric silicon nitride films
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
-
Optical characterization of phase changing Ge2Sb2Te5 chalcogenide films
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
-
Optical quantities of rough films calculated by Rayleigh-Rice theory
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
-
Spectroscopic ellipsometry and reflectometry of statistically rough surfaces exhibiting wide intervals of spatial frequencies
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
-
Surface morphology of amorphous hydrocarbon thin films deposited in pulsed radiofrequency discharge
Chem. listy, rok: 2008, ročník: 102, vydání: 16
-
Surface morphology of amorphous hydrocarbon thin films deposited in pulsed radiofrequency discharge
Rok: 2008, druh: Konferenční abstrakty
2007
-
Atomic force microscopy studies of cross-sections of columnar films
Measurement Science and Technology, rok: 2007, ročník: 18, vydání: 2
-
Correlation of thermal stability of the mechanical and optical properties of diamond-like carbon films
Diamond and Related Materials, rok: 2007, ročník: 16, vydání: 4-7
-
Study of thickness reduction of a-C:H thin film under UV light irradiation
Proceedings of ICPIG XXVIII Conference, rok: 2007
-
UV light enhanced oxidation of a-C:H thin film in air: A study of thickness reduction
Optoelectronics and Advanced Materials - Rapid Communications, rok: 2007, ročník: 1, vydání: 11