prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2006

• Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel ŠILER Martin VIŽĎA František FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav OMASTA Jaroslav

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Non-Crystalline Solids, rok: 2006, ročník: 352, vydání: 52-54

• Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEPUSTILOVÁ Růžena BAJER Svatopluk

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2006, ročník: 38, vydání: 4

• Influence of lateral dimensions of the irregularities on the optical quantities of rough surfaces

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optics A: Pure and Applied Optics, rok: 2006, ročník: 8, vydání: 9

• Optical characterization of carbon films prepared by PECVD using ellipsometry and reflectometry

  VALTR Miroslav OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Czech. J. Phys., rok: 2006, ročník: 56/2006, vydání: Suppl. B

2005

• AFM Study of Hydrocarbon Thin Films

  VALTR Miroslav OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  WDS'05 Proceedings of Contributed Papers: Part II - Physics of Plasmas and Ionized Media (ed. J. Safrankova), rok: 2005

• Application of the wavelet transformation in AFM data analysis

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2005, ročník: 55, vydání: 3

• Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan MONTAIGNE RAMIL Alberto BONNANNI Alberta SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Vacuum, rok: 2005, ročník: 80, vydání: 1-3

• Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan BÍLEK Jindřich

  Článek ve sborníku

  Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range, rok: 2005

• Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Acta physica slovaca, rok: 2005, ročník: 55, vydání: 3

• Comparison of effective medium approximation and Rayleigh-Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Communications, rok: 2005, ročník: 248, vydání: 1