Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

2005

• Intersubband absorption of strain compensated, Si1-xGex valenceband quantum wells with 0.7<=x<=0.85

  FROMHERZ Thomas MEDUŇA Mojmír BAUER Günther BORAK Alex FALUB Claudiu TSUJINO Soichiro SIGG Hans GRÜTZMACHER Detlev

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Phys., rok: 2005, ročník: 98, vydání: 4

• Structural studies of strain-symmetrised Si/SiGe structures grown by molecular beam epitaxy

  FALUB Claudiu MEDUŇA Mojmír MÜLLER Elisabeth TSUJINO Soichiro BORAK Alex SIGG Hans GRÜTZMACHER Detlev FROMHERZ Thomas BAUER Günther

  Článek v odborném periodiku

  Journal of crystal growth, rok: 2005, ročník: 278, vydání: 1-4

2004

• Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers

  MEDUŇA Mojmír NOVÁK Jiří HOLÝ Václav BAUER Günther FALUB Claudiu TSUJINO Soichiro MÜLLER Elisabeth GRÜTZMACHER Detlev CAMPIDELLI Yves KERMARREC Olivier BENSAHEL Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Zeitschrift fur Kristalographie, rok: 2004, ročník: 219, vydání: 4

• X-ray diffraction on laterally modulated (InAs)n/(AlAs)m short-period superlattices

  CAHA Ondřej KŘÁPEK Vlastimil HOLÝ Václav MOSS S. LI J. NORMAN A. MASCARENHAS A. RENO J. STANGL J. MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2004, ročník: 96, vydání: 9

2002

• Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

  HOLÝ Václav MEDUŇA Mojmír ROCH Tomáš BAUER Guenther

  Článek v odborném periodiku

  Semicond. Sci. Technol., rok: 2002, ročník: 17, vydání: 1

• Investigation of morphology and chemical composition of self-organized semiconductor quantum dots and wires by X-ray scattering

  HOLÝ Václav MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Polonica, rok: 2002, ročník: A102, vydání: 3

• Lateral composition modulation in (InAs)(n)/(AlAs)(m) short-period superlattices investigated by high-resolution x-ray scattering

  LI Jianhua HOLÝ Václav MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 2002, ročník: 66, vydání: 8

• Non-specular X-ray reflection from self-organized ripple structures in Si/Ge multilayers

  MEDUŇA Mojmír HOLÝ Václav STANGL Julian

  Článek v odborném periodiku

  Physica E, rok: 2002, ročník: 13, vydání: 4

2001

• Interface roughness in SiGe quantum-cascade structures from x-ray reflectivity studies

  ROCH Tomáš MEDUŇA Mojmír STANGL Julian HESSE Anke LECHNER Rainer T BAUER Guenther DEHLINGER G. DIEHL L. GENNSER U. MÜLLER Elisabeth GRÜTZMACHER Detlev

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2001, ročník: 91, vydání: 11

• X-ray reflectivity from self-assembled structures in Ge/Si superlattices

  MEDUŇA Mojmír HOLY V. ROCH T. BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys.D.: Appl. Phys., rok: 2001, ročník: 34, vydání: 10A