Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
odborný asistent – Ústav fyziky kondenzovaných látek
kancelář: pav. 09/01027
Kotlářská 267/2
611 37 Brno
telefon: | 549 49 6061 |
---|---|
e‑mail: |
sociální a akademické sítě: |
---|
Počet publikací: 73
2008
-
The international VAMAS project on X-ray reflectivity measurements for evaluation of thin films and multilayers - Preliminary results from the second round-robin
Thin Solid Films, rok: 2008, ročník: 516, vydání: 22
2007
-
In situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Ge-rich Si/SiGe multilayers using x-ray scattering
Semicond. Sci. Technol., rok: 2007, ročník: 22, vydání: 4
-
Interdiffusion in SiGe alloys studied by x-rays
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2007, ročník: 14, vydání: 2
2006
-
In-situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Si cascade structures
Synchrotron Radiation in Natural Sciences, rok: 2006, ročník: 5, vydání: 1-2
-
IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SI CASCADE STRUCTURES
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2006, ročník: 13, vydání: 3
-
IN-SITU INVESTIGATIONS OF SI AND GE INTERDIFFUSION IN SIGE MULTILAYERS AND CASCADE STRUCTURES
XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, rok: 2006
-
X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test
XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, rok: 2006
2005
-
High Temperature in-situ Investigation of Si/SiGe Multilayers and Cascade Structures
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2005, ročník: 12, vydání: 2
-
HIGH TEMPERATURE INVESTIGATION OF SiGe/Si-BASED CASCADE EMITTERS IN THE FAR-INFRARED
Rok: 2005, druh: Konferenční abstrakty
-
High temperature investigations of Si/SiGe based cascade structures using x-ray scattering methods
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 2005, ročník: 38, vydání: 10A