Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

2009

• Homogenization of CZ Si wafers by Tabula Rasa annealing

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Physica B condensed matter, rok: 2009, ročník: 404, vydání: 23-24

• Homogenization of CZ Si wafers by Tabula Rasa annealing

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan BURŠÍK Jiří

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2009, druh: Konferenční abstrakty

• Interdiffusion in Ge rich SiGe/Ge multilayers studied by in situ diffraction

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KEPLINGER Mario STANGL Julian BAUER Günther MUSSLER Gregor GRÜTZMACHER Detlev

  Článek v odborném periodiku

  Physica stat.sol.(a), rok: 2009, ročník: 206, vydání: 8

• Optical Characterization of Ultra-Thin Iron and Iron Oxide Films

  NEČAS David ZAJÍČKOVÁ Lenka FRANTA Daniel SŤAHEL Pavel MIKULÍK Petr MEDUŇA Mojmír VALTR Miroslav

  Článek v odborném periodiku

  e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, rok: 2009, ročník: 7, vydání: březen

• Towards limits of x-ray specular reflectivity

  JÍŠA Jan MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2009, ročník: 16, vydání: 2a

• Vacancies and self-interstitials dynamics in silicon wafers

  CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Solid State Phenomena, rok: 2009, ročník: Neuveden, vydání: 156-158

• X-ray diffraction on precipitates in Czochralski-grown silicon

  CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Physica B condensed matter, rok: 2009, ročník: 404, vydání: 23-24

• X-ray diffraction on precipitates in Czochralski-grown silicon

  CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2009, druh: Konferenční abstrakty

2008

• Interdiffusion in SiGe alloys with Ge contents of 25% and 50% studied by x-ray reflectivity

  MEDUŇA Mojmír NOVÁK Jiří BAUER Günther FALUB Claudiu GRÜTZMACHER Detlev

  Článek v odborném periodiku

  Physica stat.sol.(a), rok: 2008, ročník: 205, vydání: 10

• Reproducibility in X-ray reflectometry: results from the first world-wide round-robin experiment

  COLOMBI Paolo AGNIHOTRI Dileepa ASADCHIKOV V. E. BONTEMPI Elza BOWEN D. Keith CHANG Chang-Hwan DEPERO Laura E. FARNWORTH Mark FUJIMOTO Toshiyuki GIBAUD Alan JERGEL Matej KRUMREY Michael LAMPERTI Alessio LAFFORD Tamzin MATYI Richard J MA T. MEDUŇA Mojmír MILITA Silvia SAKURAI Kenji SHABEL'NIKOV Leonid ULYANENKOV Alexander LEE A. van der WIEMER Claudia

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Crystallography, rok: 2008, ročník: 41, vydání: 1