Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

2011

• Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej RŮŽIČKA Jiří BERNATOVÁ Silvie SVOBODA Milan BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Solid State Phenomena, rok: 2011, ročník: Neuveden, vydání: 178-179

• Performance of multilayer monochromators for hard X-ray imaging with coherent synchrotron radiation

  DIETSCH R. RACK A. WEITKAMP T. RIOTTE M. RACK T. HOLZ T. KRÄMER M. WEISSBACH D. MORAWE C. SIEWERT F. MEDUŇA Mojmír CLOETENS P. ZIEGLER E.

  Článek ve sborníku

  THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY, rok: 2011

• Study of oxide precipitates in silicon using X-ray diffraction techniques

  CAHA Ondřej BERNATOVÁ Silvie MEDUŇA Mojmír SVOBODA Milan BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (a), Applied research, rok: 2011, ročník: 208, vydání: 11, DOI

• X-RAY LAUE DIFFRACTION STUDY OF OXYGEN PRECIPITATES IN CZOCHRALSKI SILICON

  RŮŽIČKA Jiří MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2011, ročník: 18, vydání: 3

2010

• Comparative study of multilayers used in monochromators for synchrotron-based coherent hard X-ray imaging

  RACK A. WEITKAMP T. RIOTTE M. GRIGORIEV D. RACK T. HELFEN L. BAUMBACH T. DIETSCH R. HOLZ T. KRÄMER M. SIEWERT F. MEDUŇA Mojmír CLOETENS P. ZIEGLER E.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Synchrotron Radiation, rok: 2010, ročník: 17, vydání: 4

• Defect Engineering in Czochralski-grown Silicon Studied by TEM

  SVOBODA Milan BURŠÍK Jiří MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KUBĚNA Josef

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2010, druh: Konferenční abstrakty

• Micro-imaging performance of multilayers used as monochromators for coherent hard X-ray synchrotron radiation

  RACK A. WEITKAMP T. RIOTTE M. RACK T. DIETSCH R. HOLZ T. KRÄMER M. SIEWERT F. MEDUŇA Mojmír MORAWE Ch. CLOETENS P. ZIEGLER E.

  Článek v odborném periodiku

  Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, rok: 2010, ročník: Neuveden, vydání: 7802, DOI

• Oxygen Precipitation in CZ Si Wafers after High Temperature Pre-annealing

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan SVOBODA Milan BURŠÍK Jiří

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2010, druh: Konferenční abstrakty

• X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si

  CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír BERNATOVÁ Silvie RŮŽIČKA Jiří MIKULÍK Petr BURŠÍK Jiří SVOBODA Milan BERNSTORFF S.

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2010, druh: Konferenční abstrakty

2009

• Analysis of vacancy and interstitial nucleation kinetics in Si wafers during rapid thermal annealing

  KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  J.Phys.: Condens. Matter, rok: 2009, ročník: 21, vydání: 10