Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

2001

• X-ray reflectivity of self-assembled structures in SiGe multilayers and comparison with atomic force microscopy

  MEDUŇA Mojmír HOLÝ Václav ROCH T.

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Applied Physics, rok: 2001, ročník: 89, vydání: 9

• X-ray studies on self-organized wires in SiGe/Si multilayers

  ROCH T. HOLY V. MEDUŇA Mojmír BAUER G.

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys.D.: Appl. Phys., rok: 2001, ročník: 34, vydání: 10A

2000

• RTG reflexe laterálních struktur SiGe

  MEDUŇA Mojmír HOLÝ Václav KUBĚNA Josef STANGL Julian BAUER Gunter ZHU Jian-hong BRUNNER Karl

  Článek ve sborníku

  13. konference slovenských a českých fyzikov, rok: 2000